AES系列热流仪
Chiller气体控温系统
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射流式⾼低温冲击测试机给芯⽚、模块、集成电路板、电⼦元器件等提供精确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。
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射流式⾼低温冲击测试机给芯⽚、模块、集成电路板、电⼦元器件等提供精确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。
射流式⾼低温冲击测试机给芯⽚、模块、集成电路板、电⼦元器件等提供精确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估不可或缺的仪器设备。
温度范围:-120℃〜+300℃;升降温速率⾮常快速,+150℃〜-55℃<10秒;最⼤⽓流量:30m3 /h;
实时监控被测IC真实温度,实现闭环反馈,实时调整⽓体温度;升降温时间可控,程序化操作、⼿动操作、远程控制;测试条件:环境温度20℃,30m3/h,5Bar,压缩空⽓或氮⽓;可定制100m3/h⽓体流量快速冲击测试机,⽤于满⾜较⼤测试功率需求
型号 | AES-4535 AES-4535W |
AES-6035 AES-6035W |
AES-8035 AES-8035W |
AES-A1035W | AES-A1235W |
温度范围 | -40℃~225℃ | -60℃~225℃ | -80℃~225℃ | -100℃~225℃ | -120℃~225℃ |
控温精度 | ±0.1℃(出口温度稳态) | ||||
空气要求 | 空气滤清器<5um 空气含油量<0.1um 空气温湿度:5℃-32℃ 0-50%RH | ||||
空气处理能力 | 10m3/h-30m3/h 压力5bar-7.6bar | ||||
节流方式 | 电子膨胀阀 | ||||
控制器 | PLC控制器 | ||||
显示记录 | 制冷系统压力采用指针式压力表实现,循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上 | ||||
主要部件 | 丹佛斯干燥过滤器、卡斯托电磁阀、丹弗斯压力控制器、EBM风机(风冷)、丹佛斯/艾默生油分离器、SMC过滤器、艾默生电子膨胀阀、江森压力传感器 | ||||
压缩机 | 泰康、都凌 | ||||
高温降温 | 具备高温225度直接降温技术,满足目标在高温运行时迅速进行降温能力 | ||||
过程控制 | 具有工件过程控制,可根据自创物模型自建树算法和一般抗滞后串级算法相结合来控制目标温度 | ||||
尺寸 | 540*690*1320 | 540*690*1320 | 540*690*1320 | 800*1200*1750 | 1000*1500*1850 |
所有设备额定测试条件:⼲球温度:20℃;湿球温度:16℃。进⽔温度:20℃;出⽔温度:25℃。