半导体封装是确保芯片性能与可靠性的重要环节。封装工艺涉及塑封、引脚焊接、老化测试等多个工序,每个工序对温度与热流控制的要求严格。无锡冠亚热流仪通过热流控制,为封装工艺提供了解决方案。
一、热流仪应用场景
塑封工艺
塑封过程中,模具温度直接影响封装材料的流动性与固化效果。温度过高会导致材料流动性过强,造成溢胶;温度过低则可能导致固化不完全。无锡冠亚热流仪通过±0.2℃的控温精度,确保模具温度恒定,从而提升封装质量,减少气泡与空洞缺陷。
引脚焊接
焊接过程中,温度过高可能导致焊点虚焊;温度过低则可能导致焊接不牢固。无锡冠亚热流仪通过快速升温与降温,确保焊接温度准确控制,提升焊接效率与可靠性。
老化测试
老化测试是评估芯片长期可靠性的重要环节。无锡冠亚热流仪模拟芯片在温度下的工作环境,通过控温,确保测试数据的准确性。
二、热流仪技术特点
宽温域覆盖
温度范围-40℃~200℃,满足不同封装工艺的需求。其内置的多级制冷系统可在严苛温度下保持稳定运行,确保测试数据的可靠性。
快速响应
升降温速率达5℃/min,提高生产效率。例如,在某BGA封装工艺中,热流仪将升温时间从15分钟缩短至3分钟,生产效率提升20%。
无锡冠亚热流仪以其热流控制,为半导体封装工艺提供了可靠支持。未来,我们将持续创新,为行业提供解决方案。